SEM镜筒内置新开发超级圆锥透镜系统提高低加速电压下图像分辨率

通过搭载先进的片上ISP算法运用自动增益控制（AGC）、自动曝光控制（AEC）、降噪、边缘增强等先进功能去除噪声、凸显重要细节，显著提高图像质量，以更好地满足DMS/OMS智能座舱系统对影像的高精度需求。

DMS/OMS系统运行时会遇到很多特殊场景，如顺光时容易出现的强光过曝，逆光时容易造成的过暗画面，先进的ISP算法能够有效提亮暗光，抑制强光，从而在光线剧烈变化的场景下，仍能拍摄出清晰的图像，进一步提高智能座舱系统对复杂交通场景的应对能力。

SEM镜筒内置新开发的超级圆锥透镜系统，大大提高了低加速电压下的图像分辨率。这种出色的成像性能对于利用SEM检查薄片样品的端点研磨状态非常有用。

JIB-PS500i采用了大型样品室和新开发的样品平台，增加了平台的移动范围，因此可以容纳大型样品。

新开发的STEM检测器可以在平台倾斜90度时使用，支持从TEM样品制备到STEM观察的无缝过渡。

图形界面操作采用了在JSM-IT800系列高分辨率扫描电子显微镜中广受好评的“SEM中心”，全面集成EDS分析。

AS5911比当前常见的CT探测器专用ADC产品更小，占用空间更少，可集成到各种尺寸的探测器中，包括四边可拼接解决方案，这得益于缩减了外部物料清单（BOM）和嵌入式组件。

AS5911通过集成LDO稳压器、参考电压、温度传感器、电源去耦电容器和片上校准功能，降低了系统复杂性。

专有的ADC架构具有零停滞时间，很好地兼顾了功率噪声性能。在低噪声模式下，输入电流范围为0.5µA时，输入参考噪声低于0.29fC。低噪声是高性能CT探测器的标志，对成像质量至关重要，特别是在低X射线剂量下。

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